7月9日，工業和信息化部高新技術司司長張守華一行蒞臨華中數控考察調研。高新司綜合處處長張濤、火炬中心黨委委員兼企業技術創新處處長郭錦海等陪同調研。華中數控董事長陳吉紅接待并作情況匯報。調研組一行先后參觀了華中數控展廳和生產車間。在展廳，陳吉紅董事長向調研組詳細匯報了公司發展歷程、核心技術攻關進展、主要產品體系及產業化應用情況，重點介紹了華中數控在高端數控系統、工業機器人等領域的自主創新成果。在生產車間，調研組一行實地察看了產品制造流程、工藝裝備及質量管控等情況；陳吉紅董事長著重介紹了我們與北京交通大學合作研制的國產大行程激光六維誤差高精度動態測量儀這一創新成果。調研中，張守華司長對華中數控長期堅持自主創新、深耕數控核心技術取得的成績予以肯定，就進一步強化關鍵核心技術攻關、推動產業高質量發展提出指導意見。他勉勵企業把握發展機遇，持續加大核心技術攻關力度，推動人工智能與數控技術深度融合，加快高端數控系統在重點領域的規模化應用，為推進我國裝備制造業自主可控作出更大貢獻。陳吉紅董事長對調研組的關心支持表示感謝，表示華中數控將深入貫徹國家制造強國戰略，進一步發揮科技創新主體作用，加快推進核心技術突破與成果轉化，為我國數控產業高質量發展貢獻力量。
